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Ewing의 장치에 의한 Young률 측정(測定) (micrometer장치)

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작성일 23-01-18 05:36

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각 추에 대응하는 막대의 중심점 강하를 식에 대입하여 Young률 y1, y2, y3, y4, y5 를 계산하고 mean(평균)하여 시료막대를 구성하는 물질의 Young률 Y를 결정한다.Ewing의장치에의한You , Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)공학기술레포트 ,
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Ewing의 장치에 의한 Young률 측정(測定) (micrometer장치)에 대한 글입니다. 거울 G와 자 S사이의 거리를 줄자로 여러 번 측정(measurement)하여 그 mean(평균)을 L이라 한다
광학지레를 흰 종이 위에 놓고 살짝 눌러 3발의 자국을 내고 거울면에 평행한 2 발을 잇는 직선에 다른 한 발에서 수선을 내려 그 길이를 d라 하면 추 M1으로 인한 막대의 중심점의
강하 e1은 가 된다
시료 막대의 폭 a, 두께 b를 마이크로미터 또는 버니어 캘리퍼로, 두 받침날 사이의 간격l을 줄자로 여러 번 측정(measurement)하여 mean(평균)한다. y1 와 y`1의 mean(평균)을 라한다. 다음에 추를 목차로 내려 놓으면서y`4, y`3, y`2, y`1,y`0를 읽는다. 추 M1, M2, M3, M4, M5를 목차로 올려 놓으면서 그 때의 눈금 y1, y2, y3, y4, y5 를 읽는다.
*이 實驗의 포인트는 ■자 S 의 눈금의 상을 망원경으로 관측한다.
Ewing의장치에의한You

Ewing의 장치에 의한 Young률 측정(測定) (micrometer장치)

다. 그러기 위해서 우선 망원경의 촛점을 자와 거울과의 거리 L의 2배 되는 곳에 맞추어 놓고 자를 밝게 비추어 거울과 망원경의 각도를 잘 조절하여 자가 망원경을 통해 시야에 들어오게 한다■이 부…(省略)







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레포트/공학기술
Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)에 대한 글입니다.
REPORT 73(sv75)



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